SPC – statystyczne sterowanie procesami produkcji
rok wydania: 2022, wydanie trzecie
ISBN: 978-83-8156-442-7
ilość stron: 158
format: B5
oprawa: miękka
Opis
W podręczniku przedstawiono podstawową wiedzę wraz z przykładami zastosowania, niezbędną do statystycznego sterowania procesami produkcyjnymi, w których jakość jest sprawą priorytetową. W publikacji omówiono zagadnienia dotyczące systemów zarządzania jakością opartych na normach ISO 9001 oraz elementach rachunku prawdopodobieństwa i statystyki matematycznej wykorzystywanych w ramach SPC, a także techniki kart kontrolnych oraz wskaźników zdolności MSA, Six Sigma i CAQ. Wszystkie zawarte w pracy przykłady opracowano z wykorzystaniem programu komputerowego STATISTICA (wersja 8PL) firmy StatSoft.
Podręcznik jest przeznaczony dla studentów kierunków Mechanika i Budowa Maszyn oraz Zarządzanie i Inżynieria Produkcji Politechniki Warszawskiej, ale może być również wykorzystany na innych uczelniach technicznych i ekonomicznych.
Spis treści
Przedmowa / 7
Wykaz ważniejszych oznaczeń / 8
1. SPC w inżynierii jakości / 9
2. Elementy rachunku prawdopodobieństwa i statystyki matematycznej w zastosowaniach SPC / 16
2.1. Wprowadzenie do statystyki matematycznej / 16
2.2. Definicje podstawowych pojęć rachunku prawdopodobieństwa i statystyki matematycznej stosowanych w SPC / 17
2.3. Prezentacja danych w zastosowaniach SPC / 25
2.4. Przedziały ufności parametrów statystycznych / 28
2.5. Rozkłady zmiennych losowych / 29
2.5.1. Charakter zmiennych losowych 29
2.5.2. Rozkłady zmiennej losowej o charakterze skokowym / 30
2.5.3. Rozkłady zmiennej losowej o charakterze ciągłym / 32
2.6. Testowanie normalności rozkładu zmiennej losowej / 35
3. Analiza stabilności i zdolności procesu produkcyjnego / 36
3.1. Wprowadzenie do SPC / 36
3.2. Wymagania stawiane procesom produkcyjnym w aspekcie jakości / 39
3.3. Regulacja procesów za pomocą kart kontrolnych / 40
3.3.1. Podstawy budowy i typy kart kontrolnych / 40
3.3.2. Klasyczne karty kontrolne / 50
3.3.3. Karty sekwencyjne / 60
3.3.4. Karty adaptacyjne / 67
3.3.5. Karta wielowymiarowa T 2 Hotellinga / 67
3.3.6. Karty dla rozkładu innego niż normalny / 71
3.4. Zdolność procesu produkcyjnego / 72
3.5. Analiza stabilności i zdolności procesu produkcyjnego / 85
4. Analiza stabilności i zdolności systemów pomiarowych dla potrzeb SPC / 95
4.1. Wymagania stawiane narzędziom i systemom pomiarowym / 95
4.1.1. Rozdzielczość / 95
4.1.2. Niepewność / 96
4.1.3. Dokładność / 97
4.1.4. Powtarzalność / 97
4.1.5. Odtwarzalność / 98
4.1.6. Stabilność / 99
4.1.7. Liniowość / 99
4.2. Metodyka analizy stabilności i zdolności systemów pomiarowych / 100
4.3. Niepewność pomiaru / 100
4.3.1. Niepewność a błąd pomiaru / 100
4.3.2. Szacowanie niepewności pomiarów wielkości geometrycznych / 106
4.3.3. Niepewność pomiaru na tle przedziału tolerancji / 111
4.4. Procedura 1 oceny systemu pomiarowego / 112
4.5. Procedura 2 oceny systemu pomiarowego (metoda R&R) / 117
4.6. Procedura 3 oceny systemu pomiarowego / 124
5. Metodyka sześć sigma (six sigma) / 129
6. SPC w komputerowym wspomaganiu jakości (CAQ) / 139
7. Narzędzia i techniki wspomagające SPC / 144
7.1. Narzędzia analizy problemów w inżynierii jakości / 144
7.2. Diagram Ishikawy / 145
7.3. Diagram Pareto / 147
7.4. Schemat blokowy / 149
Słownik ważniejszych terminów / 151
Literatura / 156
Informacje o bezpieczeństwie produktu Informacje o producencie